| 标题 |
A First Principle Study to Understand the Importance of Edge‐exposed and Basal Plane Defective MoS2 Towards Nitrogen Reduction Reaction 了解边缘暴露和基面缺陷MoS2对氮还原反应重要性的第一性原理研究
相关领域
之字形的
空位缺陷
密度泛函理论
硫黄
化学物理
化学
氮气
计算化学
基面
限制
GSM演进的增强数据速率
氢
氧化还原
材料科学
分子
结晶学
无机化学
几何学
有机化学
工程类
机械工程
电信
计算机科学
数学
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:ChemPhysChem 作者:Yuan‐Hui Xiao; Xinwei Wu; Lai-Ke Chen; Ziwei Ma; Jiande Lin; et al 出版日期:2025-02-05 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时,文件已从服务器自动删除,无法下载。 |
|
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|