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 Abnormal threshold voltage shift by the effect of H2O during negative bias stress in amorphous InGaZnO thin film transistors 相关领域
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期刊：Solid-state Electronics 作者：Tae-Kyoung Ha; Yongjo Kim; SangHee Yu; GwangTae Kim; Hoon Eui Jeong; et al 出版日期：2020-12-01 |
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