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标题
Effect of Stress and Measurement Conditions in Determining the Reliability of SiC Power MOSFETs
相关领域
材料科学 可靠性(半导体) 压力(语言学) 碳化硅 功率MOSFET MOSFET 功率(物理) 光电子学 功率半导体器件
网址
DOI
10.1149/05003.0251ecst doi
其它 期刊:ECS Transactions
作者:A. Lelis; R. Green; M. El; D. Habersat
出版日期:2013
求助人
妞妞 在 2021-04-08 13:45:08 发布,悬赏 10 积分
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