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Model of the Weak Reset Process in HfOx Resistive Memory for Deep Learning Frameworks 相关领域
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期刊:IEEE Transactions on Electron Devices 作者:Atreya Majumdar; M. Bocquet; Tifenn Hirtzlin; Axel Laborieux; Jacques‐Olivier Klein; et al 出版日期:2021-09-08 |
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