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Probing resistive switching in HfO2/Al2O3 bilayer oxides using in-situ transmission electron microscopy 相关领域
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期刊:Applied Materials Today 作者:Alok Ranjan; Hejun Xu; Chaolun Wang; Joel Molina‐Reyes; Xing Wu; et al 出版日期:2023-01-20 |
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