Comparing the Impact of Power Supply Voltage on CMOS- and FinFET-Based SRAMs in the Presence of Resistive Defects

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标题	Comparing the Impact of Power Supply Voltage on CMOS- and FinFET-Based SRAMs in the Presence of Resistive Defects
网址	https://doi.org/10.1007/s10836-020-05869-2
DOI	10.1007/s10836-020-05869-2 doi
其它	期刊：Journal of Electronic Testing 作者：T. Copetti; T. R. Balen; E. Brum; C. Aquistapace; L. Bolzani Poehls 出版日期：2020
求助人	酷波er 在 2025-10-30 18:14:02 发布自江苏，悬赏 10 积分
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