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Mismatch Analysis of DTCs With an Improved BIST-TDC in 28-nm CMOS |
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期刊:IEEE Transactions on Circuits and Systems I: Regular Papers 作者:Peng Chen; Jun Yin; Feifei Zhang; Pui-In Mak; Rui P. Martins; Robert Bogdan Staszewski 出版日期:2022 |
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