| 标题 |
Surface inversion layer effective minority carrier mobility as one of the measures of surface quality of the p-aSi:H/i-aSi:H/cSi heterojunction solar cell 相关领域
异质结
退火(玻璃)
载流子寿命
薄脆饼
光电子学
反演(地质)
材料科学
太阳能电池
硅
化学
复合材料
古生物学
构造盆地
生物
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:Japanese Journal of Applied Physics 作者:Takefumi Kamioka; Yutaka Hayashi; Kazuhiro Gotoh; Ryo Ozaki; Kyotaro Nakamura; et al 出版日期:2020-01-28 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时,文件已从服务器自动删除,无法下载。 |
|
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|