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Investigation of the Capacitance–Voltage Electrical Characteristics of Thin-Film Transistors Caused by Hydrogen Diffusion under Negative Bias Stress in a Moist Environment
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期刊:ACS Applied Materials & Interfaces 作者:Hong Chen; Chuan Hsien Kuo; Ting-Chang Chang; Wei Lai; Po See Chen; et al 出版日期:2019-10-30 |
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