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  New Data Analysis Tools for X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS) and Spectroscopic Ellipsometry (SE): Uniqueness Plots and Width Functions in XPS, and Distance, Principal Component, and Cluster Analyses in SE X射线光电子能谱(XPS)和光谱椭偏(SE)的新数据分析工具：XPS中的唯一性图和宽度函数，以及SE中的距离、主成分和聚类分析
相关领域
X射线光电子能谱
独特性
主成分分析
星团（航天器）
椭圆偏振法
分析化学（期刊）
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材料科学
X射线
化学
物理
光学
薄膜
核磁共振
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热力学
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期刊：Microscopy and Microanalysis 作者：Matthew R. Linford; Bhupinder Pal Singh; Daniel Velázquez; Jeff Terry; Jacob D. Bagley; et al 出版日期：2016-07-01 |
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