Analysis of a Failure in High-Voltage VDMOS Device caused by Die Contamination

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标题	Analysis of a Failure in High-Voltage VDMOS Device caused by Die Contamination
网址	http://xplorestaging.ieee.org/ielx7/9617229/9617230/09617375...
DOI	10.1109/ipfa53173.2021.9617375 doi
其它	期刊：2021 IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA) 作者：Zhaoxi Wu; Chao Duan; Zhiming Ding; Yaning Wu; Rui Cao; et al 出版日期：2021-11-29
求助人	研友_8oYMyn 在 2026-03-12 16:22:50 发布自广东，悬赏 10 积分
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