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Investigation of Deformation Fluctuation of IGBT Chips Under Switching Conditions Using the Dynamic Field Reconstruction Method
用动态场重构法研究IGBT芯片在开关状态下的变形波动
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网址
https://doi.org/10.1109/tpel.2022.3214807
DOI
10.1109/tpel.2022.3214807 doi
其它 期刊：IEEE Transactions on Power Electronics
作者：Jiahao Wang; Libing Bai; Cong Chen; Jie Zhang; Quan Zhou; et al
出版日期：2022-11-03
求助人
sshx 在 2025-12-09 14:33:10 发布自海南，悬赏 10 积分
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