SciHub
文献互助
期刊查询
一搜即达
科研导航
即时热点
交流社区
登录
注册
发布
文献
求助
首页
我的求助
捐赠本站
平淡的77
Lv1
1
48 积分
2022-10-21 加入
最近求助
最近应助
互助留言
Off-state mode TDDB reliability for ultra-thin gate oxides: New methodology and the impact of oxide thickness scaling
1小时前
待确认
Reliability Design of Multirow Quad Flat Nonlead Packages Based on Numerical Design of Experiment Method
5个月前
已关闭
没有进行任何应助
找到了【积分已退回】
5个月前
最近帖子
最近评论
没有发布任何帖子
没有发布任何评论