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舒心的芙
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2026-03-06 加入
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Long-Term Operational Stability of Dual-Gated ITO/HfO2 Field-Effect Transistors via Full Top-Gate Coverage: A Comprehensive Bias-Stress Mapping
5天前
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5天前
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Long-Term Operational Stability of Dual-Gated ITO/HfO2 Field-Effect Transistors via Full Top-Gate Coverage: A Comprehensive Bias-Stress Mapping
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