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![]() NMOS HKMG器件诱导布局依赖性的理解和缓解应力记忆技术
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期刊:IEEE Journal of the Electron Devices Society 作者:Ying-Fei Wang; Qing‐Chun Zhang; Ping Li; Xiaojing Su; Lisong Dong; et al 出版日期:2020-10-22 |
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Guoomeng
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2025-08-04 23:03:48 发布,悬赏 10 积分
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