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 Impact of Auger Recombination, Electron Leakage and Hole Injection on Efficiency Droop for DUV LEDs 俄歇复合、电子泄漏和空穴注入对DUV LED效率下降的影响
相关领域
电压降
材料科学
发光二极管
俄歇效应
泄漏（经济）
重组
光电子学
电子
电气工程
核物理学
物理
电压
生物
工程类
宏观经济学
经济
基因
生物化学
分压器
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| 其它 |
期刊：Chinese Journal of Luminescence 作者：Wei-dong WANG; Chun-shuang CHU; Dan-yang ZHANG; Wen-gang BI; Yonghui Zhang; et al 出版日期：2021-01-01 |
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