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 A new edge termination technique to improve voltage blocking capability and reliability of field limiting ring for power devices 提高功率器件场限环阻压能力和可靠性的边缘端接技术
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期刊： 作者：Yohan Kim; Han Chu Lee; Sin Su Kyung; Young-Mok Kim; Ey Goo Kang; et al 出版日期：2008-06-01 |
| 求助人 | |
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