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Impact of Kelvin-Source Resistors on Current Sharing and Failure Detection in Multichip Power Modules
开尔文源电阻对多芯片功率模块均流和故障检测的影响
相关领域
电阻器
电气工程
开尔文探针力显微镜
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纳米技术
原子力显微镜
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期刊:European Conference on Power Electronics and Applications 作者:Nick Baker; Francesco Iannuzzo; Helong Li 出版日期:2018-10-30 |
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