标题 |
Extreme ultraviolet microexposures at the Advanced Light Source using the 0.3 numerical aperture micro-exposure tool optic
使用0.3数值孔径微曝光工具光学系统在先进光源下的极紫外微曝光
相关领域
极紫外光刻
极端紫外线
光学
数值孔径
抵抗
平版印刷术
光掩模
光圈(计算机存储器)
连贯性(哲学赌博策略)
光学(聚焦)
计算机科学
材料科学
物理
工程类
纳米技术
波长
机械工程
激光器
量子力学
图层(电子)
|
网址 | |
DOI | |
其它 |
期刊:Journal of vacuum science & technology 作者:Patrick Naulleau; Kenneth A. Goldberg; Erik H. Anderson; Jason P. Cain; Paul Denham; et al 出版日期:2004-11-01 |
求助人 | |
下载 | 该求助完结已超 24 小时,文件已从服务器自动删除,无法下载。 |
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|