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![]() 1.2 kV 4H-SiC平面MOSFET设计的包容性结构分析
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期刊:IEEE Journal of the Electron Devices Society 作者:Dongyoung Kim; Nick Yun; Seung Yup Jang; Adam J. Morgan; Woongje Sung 出版日期:2021-01-01 |
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