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Measurement of Radiated Emissions from Integrated Circuits—TEM/Wideband TEM (GTEM) Cell Method; TEM Cell (150 kHz to 1 GHz), Wideband TEM Cell (150 kHz to 8 GHz)(STABILIZED Sep 2017) J1752/3_201709
集成电路辐射发射的测量——TEM/宽带TEM(GTEM)单元法;TEM信元(150千赫至1千赫),宽带TEM信元(150千赫至8千赫)(2017年9月稳定)J1752/3_201709
相关领域
宽带
印刷电路板
材料科学
端口(电路理论)
电子线路
电气工程
光学
工程类
物理
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DOI: https://doi.org/10.4271/J1752/3_201709 Issuing Committee: Electromagnetic Compatibility (EMC) Standards Publisher: SAE International Pages: 16 Rationale: This document has been determined to contain basic and stable technology which is not dynamic in nature. |
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