标题 |
X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) as a useful tool to characterize polyaniline doped by 12-tungstosilicic, 12-tungstophosphoric and 12-molybdophosphoric acids
X射线光电子能谱(XPS)用于表征12-硅钨酸、12-磷钨酸和12-磷钼酸掺杂聚苯胺
相关领域
X射线光电子能谱
质子化
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聚苯胺
亚胺
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胺气处理
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化学
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其它 |
期刊:Synthetic Metals 作者:Roman Dziembaj; Zofia Piwowarska 出版日期:1994-04-01 |
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