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![]() 利用热力有限差数值建模和现场数字图像相关验证对SiCMOS多芯片扇形输出面板级封装进行弯曲优化
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期刊:IEEE Transactions on Power Electronics 作者:Wenyu Li; Wei Chen; Jing Jiang; Wenbo Wang; Yuhan Gao; et al 出版日期:2025 |
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