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 Investigations of temperature-dependent interface traps in AlGaN/GaN HEMT on CVD-diamond CVD金刚石上AlGaN/GaN HEMT中温度相关界面陷阱的研究
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期刊：Applied Physics Express 作者：Kumud Ranjan; S. Arulkumaran; Geok Ing Ng 出版日期：2019-09-18 |
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