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 An Experimental Study of the Dynamic Resistance in Surface Leakage Limited nBn Structures Based on HgCdTe Grown by Molecular Beam Epitaxy 分子束外延生长HgCdTe基表面泄漏受限nBn结构动态电阻的实验研究
相关领域
分子束外延
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期刊：Journal of Electronic Materials 作者：А. В. Войцеховский; S. N. Nesmelov; S. М. Dzyadukh; S. A. Dvoretsky; Н. Н. Михайлов; et al 出版日期：2021-05-25 |
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