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 Investigation on dislocation and deflection morphology of PVT-grown on-axis 4H-SiC crystals PVT法生长的轴向4H-碳化硅晶体位错和偏转形态研究
相关领域
线程（蛋白质序列）
材料科学
位错
扫描电子显微镜
结晶学
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光学
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计算机科学
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生物化学
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物理
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期刊：Journal of Physics D 作者：Huadong Li; Peng Yan; Xiu Yang; Jian Xue Xie; Xiufang Chen; et al 出版日期：2022-09-15 |
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