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Accurate thickness characterization of materials via wavelet denoising and baseline correction at the terahertz frequency 相关领域
降噪
稳健性(进化)
计算机科学
小波
小波变换
阈值
材料科学
还原(数学)
算法
光学
噪音(视频)
表征(材料科学)
校准
信号处理
迭代法
图像质量
傅里叶变换
基线(sea)
频域
计算
人工智能
图像处理
信噪比(成像)
质量(理念)
无损检测
涂层
时域
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| 其它 |
期刊:Applied Optics 作者:Li Wang; Dayou Liu; Juncheng Bao; Qi Feng 出版日期:2025-11-24 |
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