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X-ray diffraction investigation of GaN layers on Si(111) and Al2O3 (0001) substrates 相关领域
材料科学
衍射
X射线晶体学
X射线
光电子学
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光学
化学
物理
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期刊:Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics 作者:N. V. Safriuk 出版日期:2013-09-30 |
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