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  Modeling of the Point Defect Migration across the AlN/GaN Interfaces—Ab Initio Study AlN/GaN界面上点缺陷迁移的模拟——从头算研究
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期刊：Materials 作者：Roman Hrytsak; Paweł Kempisty; Ewa Grzanka; M. Leszczyński; M. Sznajder 出版日期：2022-01-09 |
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