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![]() 基于扫描的ATPG诊断和光学技术的结合:一种提高功能逻辑故障中缺陷隔离准确性的新方法
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期刊: 作者:A. Machouat; G. Haller; V. Goubier; D. Lewis; V. Pouget; et al 出版日期:2008-07-01 |
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