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Prediction of low-cycle fatigue crack development of sputtered Cu thin film using deep convolutional neural network 基于深度卷积神经网络的溅射Cu薄膜低周疲劳裂纹扩展预测
相关领域
卷积神经网络
可靠性(半导体)
材料科学
电阻和电导
薄膜
疲劳试验
巴黎法
复合材料
结构工程
计算机科学
人工智能
断裂力学
裂缝闭合
工程类
纳米技术
物理
量子力学
功率(物理)
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期刊:International Journal of Fatigue 作者:Michiaki Kamiyama; Kazuteru Shimizu; Yoshiaki AKINIWA 出版日期:2022-05-11 |
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