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 Analysis on electrical parameters including temperature and interface trap charges in gate overlap Ge source step shape double gate TFET 栅极重叠Ge源极阶梯形双栅极TFET的温度和界面陷阱电荷分析
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期刊：Microelectronics Journal 作者：Rajesh Saha; Rupam Goswami; Deepak Kumar Panda 出版日期：2022-11-03 |
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