Analysis on electrical parameters including temperature and interface trap charges in gate overlap Ge source step shape double gate TFET

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标题	Analysis on electrical parameters including temperature and interface trap charges in gate overlap Ge source step shape double gate TFET 栅极重叠Ge源极阶梯形双栅极TFET的温度和界面陷阱电荷分析相关领域材料科学线性量子隧道离子光电子学存水弯（水管）降级（电信）分析化学（期刊）化学电气工程物理色谱法工程类气象学有机化学
网址	https://doi.org/10.1016/j.mejo.2022.105629
DOI	10.1016/j.mejo.2022.105629 doi
其它	期刊：Microelectronics Journal 作者：Rajesh Saha; Rupam Goswami; Deepak Kumar Panda 出版日期：2022-11-03
求助人	waingfory 在 2025-08-30 07:31:40 发布，悬赏 10 积分
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