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 Low-dose performance of wafer-scale CMOS-based X-ray detectors 晶圆级CMOS基X射线探测器的低剂量性能
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期刊：Proceedings of SPIE, the International Society for Optical Engineering 作者：Willem H. Maes; Inge M. Peters; Chiel Smit; Y.A.R.R. Kessener; Jan T. Bosiers 出版日期：2015-03-18 |
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