标题 |
![]() 一种用于薄膜检查的X射线圆柱形纹理照相机
相关领域
纹理(宇宙学)
微晶
材料科学
光学
薄膜
X射线
图层(电子)
沉积(地质)
方向(向量空间)
复合材料
物理
图像(数学)
计算机科学
数学
几何学
人工智能
冶金
地质学
纳米技术
古生物学
沉积物
|
网址 | |
DOI | |
其它 |
期刊:Journal of Applied Crystallography 作者:C. A. Wallace; R. C. C. Ward 出版日期:1975-04-01 |
求助人 | |
下载 | |
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|