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 Routine Collection of High-Resolution cryo-EM Datasets Using 200 KV Transmission Electron Microscope 用200 KV透射电子显微镜常规采集高分辨率cryo-EM数据集
相关领域
自动化
计算机科学
吞吐量
低温电子显微
数据收集
显微镜
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显微镜
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电信
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数学
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期刊：Journal of Visualized Experiments 作者：Adrian Koh; Sagar Khavnekar; Wen Ye; Dimple Karia; Dennis Cats; et al 出版日期：2022-03-16 |
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