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 Measurement of poly-Si film thickness on textured surfaces by X-ray diffraction in poly-Si/SiO passivating contacts for monocrystalline Si solar cells X射线衍射法测量单晶Si太阳电池poly-Si/SiO钝化触点织构表面的多晶硅膜厚度
相关领域
单晶硅
材料科学
钝化
硅
多晶硅
衍射
光电子学
光学
纳米技术
图层（电子）
薄膜晶体管
物理
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| 其它 |
期刊：Solar Energy Materials and Solar Cells 作者：Kejun Chen; Alexandra M. Bothwell; Harvey Guthrey; Matthew B. Hartenstein; Jana-Isabelle Polzin; et al 出版日期：2022-03-01 |
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