Hot‑Carrier‑Induced Degradation and Gate Oxide Integrity Issue on HV‑P‑LDMOSFET

求助中

文献求助详情

标题	[高分] 学位论文 Hot‑Carrier‑Induced Degradation and Gate Oxide Integrity Issue on HV‑P‑LDMOSFET HV‑P-LDMOSFET上的热载流子引起的退化和栅极氧化物完整性问题
网址	https://researchoutput.ncku.edu.tw/zh/studentTheses/hot-carr...
DOI	暂未提供，该求助的时间将会延长，查看原因？
求助人	加兰在 2025-06-23 20:48:48 发布自浙江，悬赏 50 积分
下载	暂无链接，等待应助者上传

上个求助

下个求助

求助 / 应助时间线

现在，等待您上传文献

对不起，您需要登录才可以上传文件。
进入登录页面
2天前

科研通AI2.0 机器人未找到该文献，机器人已退出，请等待人工下载

20:48:54 未找到该文献，机器人已退出，请等待人工下载

20:48:50 科研通AI机器人（中国香港）收到请求，开始寻找文献

20:48:48 已向机器人发送请求
2天前

加兰 Lv1 求助人发起了本次求助

我的文献求助列表浏览历史

一分钟了解求助规则 | 捐赠本站 | 历史今天

更新

2025年影响因子查询已上线 (2026-6-18)

更新

PDF的下载单位、IP信息已删除 (2025-6-4)

科研通是完全免费的文献互助平台，具备全网最快的应助速度，最高的求助完成率。对每一个文献求助，科研通都将尽心尽力，给求助人一个满意的交代。

实时播报: dddz发布了新的文献求助10

3秒前; Sandy上传了应助文件

1分钟前; 畅快海云完成签到，获得积分10

1分钟前; dddz完成签到，获得积分20

2分钟前; 无花果的应助被木子采纳，获得10

2分钟前; 无花果上传了应助文件

2分钟前; 木子发布了新的文献求助10

2分钟前; 科研通AI2S的应助被科研通管家采纳，获得10

2分钟前; 英姑的应助被PanLi采纳，获得10

3分钟前; sowhat完成签到，获得积分10

3分钟前; 英姑上传了应助文件

4分钟前; PanLi发布了新的文献求助10

4分钟前; 科研通AI2S上传了应助文件

4分钟前; wujiwuhui完成签到，获得积分10

4分钟前; PanLi完成签到，获得积分10

4分钟前; mashibeo完成签到，获得积分10

5分钟前; 无私的怜烟完成签到，获得积分10

6分钟前; 科研通AI2S上传了应助文件

6分钟前; Akim的应助被科研通管家采纳，获得10

6分钟前; 合不着完成签到，获得积分10

6分钟前; 科研通AI2S上传了应助文件

7分钟前; 牛八先生完成签到，获得积分10

7分钟前; 感谢有你完成签到，获得积分10

7分钟前; XIA的应助被H_C采纳，获得20

8分钟前; 汪鸡毛完成签到，获得积分10

8分钟前; Qian完成签到，获得积分10

9分钟前; 可爱的函函的应助被Bo采纳，获得20

9分钟前; XIA上传了应助文件

9分钟前; 想人陪的飞薇完成签到，获得积分10

10分钟前; 科研通AI2S的应助被科研通管家采纳，获得10

10分钟前; 科研通AI2S的应助被科研通管家采纳，获得10

10分钟前; 可爱的函函上传了应助文件

11分钟前; Bo发布了新的文献求助20

11分钟前; MchemG上传了应助文件

12分钟前; Bo完成签到，获得积分10

12分钟前; 领导范儿的应助被hh采纳，获得10

12分钟前; 科研通AI2S上传了应助文件

13分钟前; 充电宝的应助被Hui_2023采纳，获得30

13分钟前; 充电宝上传了应助文件

13分钟前; Hui_2023发布了新的文献求助30

13分钟前