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TCAD analysis of conditions for DIBL parameter misestimation in cryogenic MOSFETs 低温MOSFET中DIBL参数错误估计条件的TCAD分析
相关领域
材料科学
光电子学
排水诱导屏障降低
MOSFET
工程物理
电气工程
场效应晶体管
物理
工程类
电压
晶体管
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期刊:Japanese Journal of Applied Physics 作者:Y. Kobayashi; Hidehiro Asai; Shota Iizuka; Junichi Hattori; Tsutomu Ikegami; et al 出版日期:2024-07-08 |
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