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 Scale Effects in BEOL Compatible Ferroelectric Field-Effect Transistor Memories with Random Phase Fluctuation 具有随机相位波动的BEOL兼容铁电场效应晶体管存储器中的尺度效应
相关领域
材料科学
铁电性
缩放比例
晶体管
场效应晶体管
电介质
光电子学
相（物质）
粒度
阈值电压
短通道效应
凝聚态物理
MOSFET
电压
电气工程
物理
工程类
数学
量子力学
几何学
冶金
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期刊：Physica Scripta 作者：Yu-Xi Yang; Qiang Li; Jia Cheng Li; Tian-Tong Cheng; Zhi-Wei Zheng 出版日期：2025-01-16 |
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