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 Non-contact thickness gauging of a thin film using surface waves and a void effect on their propagation 相关领域
材料科学
瑞利波
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光学
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期刊：Measurement Science and Technology 作者：Sabrina Fourez; Frédéric Jenot; Mohammadi Ouaftouh; Marc Duquennoy; Mouloud Ourak 出版日期：2012-07-12 |
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