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Heavy Ion Radiation Effects on Hafnium Oxide-Based Resistive Random Access Memory |
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期刊:IEEE Transactions on Nuclear Science 作者:Stefan Petzold; S. U. Sharath; Jonas Lemke; Erwin Hildebrandt; Christina Trautmann; Lambert Alff 出版日期:2019-05-04 |
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(2025-6-4)