| 标题 |
 Quantitative atomic cross section analysis by 4D-STEM and EELS 4D-STEM和EELS定量原子截面分析
相关领域
原子物理学
电子能量损失谱
扫描透射电子显微镜
电子
激发态
价电子
等离子体子
非弹性平均自由程
散射
激发
非弹性散射
化学
偶极子
分子物理学
物理
透射电子显微镜
光学
有机化学
量子力学
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊：Ultramicroscopy 作者：Shahar Seifer; Lothar Houben; Michael Elbaum 出版日期：2024-02-01 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时，文件已从服务器自动删除，无法下载。 |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
非而者厚
cdercder
平常的毛豆
科研小民工
余味
pluto
Oracle
高大凌寒
HEIKU
VT
gao_yiyi
iNk
斯寜
VDC
善良的剑通
zgt01
昏睡的蟠桃
Xiaoxiao
jenningseastera
Alcb1168
皖公网安备34019202002308
