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![]() 用脉冲开关测量法研究铁电Hf0.5Zr 0.5 O2薄膜的唤醒效应
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期刊:Nanoscale 作者:Han‐Joon Kim; Min Hyuk Park; Yu Jin Kim; Young Hwan Lee; Taehwan Moon; et al 出版日期:2015-10-08 |
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