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![]() Cu-Sn纳米复合夹层瞬态液相键合Cu/Cu接头缺陷的形成与缓解
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期刊:Microelectronics Reliability 作者:Han Jiang; Stuart Robertson; Shuibao Liang; Zhaoxia Zhou; Liguo Zhao; et al 出版日期:2022-09-25 |
求助人 |
无辜豪英
在
2025-06-05 11:50:14 发布,悬赏 10 积分
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