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 The Evaluation of Complementary Metal-Oxide Semiconductor (CMOS) in Smartphone to Test X-Ray Tube Radiation Leakage 智能手机中互补金属氧化物半导体（CMOS）测试X射线管辐射泄漏的评价
相关领域
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期刊：Journal of Biomimetics, Biomaterials and Biomedical Engineering 作者：Tengku Mohammad Yoshandi; Abdul Zaky; Adit Patrian 出版日期：2023-02-14 |
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