标题 |
Multi-scale GAN with transformer for surface defect inspection of IC metal packages
多尺度GaN Transformer model用于IC金属封装表面缺陷检测
相关领域
计算机科学
编码器
深度学习
变压器
模式识别(心理学)
人工智能
电气工程
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电压
操作系统
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其它 |
期刊:Expert Systems With Applications 作者:Kaiqiong Chen; Nian Cai; Zhenshuang Wu; Hao Xia; Shuai Zhou; et al 出版日期:2022-09-01 |
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