标题 |
Annealing of radiation-induced defects in burn-instressed powerVDMOSFETS
烧蚀型功率VDMOSFETs中辐射缺陷的退火
相关领域
退火(玻璃)
材料科学
栅氧化层
氧化物
阈值电压
光电子学
辐照
辐射
电压
复合材料
电气工程
光学
晶体管
冶金
物理
工程类
核物理学
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