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 Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS) for Chemical Characterization of Metal Halide Perovskites 二次离子质谱（SIMS）用于金属卤化物钙钛矿的化学表征
相关领域
材料科学
二次离子质谱法
卤化物
钙钛矿（结构）
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期刊：Advanced Functional Materials 作者：Yongtao Liu; Matthias Lorenz; Anton V. Ievlev; Olga S. Ovchinnikova 出版日期：2020-06-18 |
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