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 Dopant diffusion through ultrathin AlOx and AlOx/SiOx tunnel layer in TOPCon structure and its impact on the passivation quality on c-Si solar cells TOPCon结构AlOx和AlOx/SiOx超薄隧道层掺杂扩散及其对c-Si太阳电池钝化质量的影响
相关领域
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薄脆饼
扩散
载流子寿命
钝化
光电子学
硅
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兴奋剂
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期刊：Solar Energy Materials and Solar Cells 作者：Linna Lu; Yuheng Zeng; Mingdun Liao; Jingming Zheng; Yiran Lin; et al 出版日期：2021-01-18 |
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