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 Impact of Gaussian Grain Boundary Trap States on the Performance of the LTPS TFTs 高斯晶界陷阱态对LTPS薄膜晶体管性能的影响
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期刊：2022 IEEE International Conference of Electron Devices Society Kolkata Chapter (EDKCON) 作者：Saurabh Jaiswal; M. K. Singh; Rupam Gosawmi; Manish Goswami; Kavindra Kandpal 出版日期：2022-11-26 |
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